【英文标准名称】:RecommendedPracticeforMeasurementofPropertiesofProppantsUsedinHydraulicFracturingandGravel-packingOperations
【原文标准名称】:高压水砂破裂法和砾石包装作业用支撑剂性能的测量用推荐实施规程
【标准号】:ANSI/APIRP19C-2007
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2007
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:添加剂;填充液;定义;英语;分馏法;砾石;液压的;测量;天然气工业;石油工业;石油产品;特性;支撑剂;抽样方法;筛选(大小);混浊度
【英文主题词】:Additives;Completionfluids;Definition;Definitions;Englishlanguage;Fractionation;Gravel;Hydraulic;Measurement;Naturalgasindustries;Oilindustries;Petroleumproducts;Properties;Proppants;Samplingmethods;Screening(sizing);Turbidity
【摘要】:Providesstandardtestingforevaluatingproppantsusedinhydraulicfracturingandgravel-packingoperationsandaconsistentmethodologyfortestingperformedonhydraulicfracturingand/orgravel-packingproppants.
【中国标准分类号】:E60
【国际标准分类号】:75_100
【页数】:
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Harmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents:basicspecification:scanningelectronmicroscopeinspectionofsemiconductordice
【原文标准名称】:电子元器件质量评定协调体系.基本规范:半导体小片的扫描电子显微镜检验
【标准号】:BSCECC00013-1985
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1985-08-30
【实施或试行日期】:1985-08-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;检验;规范(验收);集成电路工艺;试验设备;试样制备;试验条件;抽样方法;无损检验;半导体器件;质量控制;半导体工艺;电子显微镜;统计质量控制;半导体;认可试验;质量保证体系;集成电路;显微分析
【英文主题词】:Approvaltesting;Assessedquality;Electronmicroscopes;Electronicequipmentandcomponents;Inspection;Integratedcircuittechnology;Integratedcircuits;Microscopicanalysis;Non-destructivetesting;Qualityassurancesystems;Qualitycontrol;Samplingmethods;Semiconductordevices;Semiconductortechnology;Semiconductors;Specification(approval);Specimenpreparation;Statisticalqualitycontrol;Testequipment;Testingconditions
【摘要】:DescribesequipmentandprocedurestobeusedforSEMinspectionofdiscretesemiconductordevicesandintegratedcircuits.
【中国标准分类号】:L10;L40
【国际标准分类号】:31_080_01;31_200
【页数】:28P;A4
【正文语种】:英语